Accès à distance ? S'identifier sur le proxy UCLouvain
Development and characterization of microsystems in thin film SOI technology
Primary tabs
| Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
|---|---|
| Publication date | 2002 |
| Language | Anglais |
| Conference | "Union Radio-Scientifique Internationale (U.R.S.I.)", Brussels, Belgium (13/12/2002) |
| Peer reviewed | yes |
| Host document | "Proceedings of the Union Radio-Scientifique Internationale (U.R.S.I.)"- p. 1 page |
| Publication status | Publié |
| Affiliation | UCL - FSA/ELEC - Département d'électricité |
| Links |
| Bibliographic reference | Iker, François ; Raskin, Jean-Pierre. Development and characterization of microsystems in thin film SOI technology.Union Radio-Scientifique Internationale (U.R.S.I.) (Brussels, Belgium, 13/12/2002). In: Proceedings of the Union Radio-Scientifique Internationale (U.R.S.I.), 2002, p. 1 page |
|---|---|
| Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/122609 |