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Relevant modelling & Comparison of geometric distorsions in watermarking systems
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Delannay, Damien
[UCL]
Setyawan, Iwan
[]
Lagendijk, R.1.
[]
Macq, Benoît
[UCL]
| Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
|---|---|
| Publication date | 2002 |
| Language | Anglais |
| Conference | "SPIE 47th Annual Meeting - Optical Science and Technology", Seattle, USA (July 1-11, 2002) |
| Peer reviewed | yes |
| Affiliation | UCL - FSA/ELEC - Département d'électricité |
| Keywords | Watermarking |
| Links |
| Bibliographic reference | Delannay, Damien ; Setyawan, Iwan ; Lagendijk, R.1. ; Macq, Benoît. Relevant modelling & Comparison of geometric distorsions in watermarking systems.SPIE 47th Annual Meeting - Optical Science and Technology (Seattle, USA, July 1-11, 2002). |
|---|---|
| Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/88473 |