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Relevant modelling & Comparison of geometric distorsions in watermarking systems
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Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
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Publication date | 2002 |
Language | Anglais |
Conference | "SPIE 47th Annual Meeting - Optical Science and Technology", Seattle, USA (July 1-11, 2002) |
Peer reviewed | yes |
Affiliation | UCL - FSA/ELEC - Département d'électricité |
Keywords | Watermarking |
Links |
Bibliographic reference | Delannay, Damien ; Setyawan, Iwan ; Lagendijk, R.1. ; Macq, Benoît. Relevant modelling & Comparison of geometric distorsions in watermarking systems.SPIE 47th Annual Meeting - Optical Science and Technology (Seattle, USA, July 1-11, 2002). |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/88473 |