Accès à distance ? S'identifier sur le proxy UCLouvain | Saint-Louis
Random Profiles of Laser Marks
Primary tabs
- Open access
- 1.16 M
Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
---|---|
Access type | Accès libre |
Publication date | 2010 |
Language | Anglais |
Conference | "Proceedings of the 31st WIC Symposium on Information Theory in the Benelux", Rotterdan/the Netherlands (May, 11-12) |
Peer reviewed | yes |
Host document | "PROCEEDINGS OF THE SYMPOSIUM ON INFORMATION THEORY IN THE BENELUX"- 27-34 (ISBN : 9789071048234) |
Publication status | Publié |
Affiliations |
UCL
- EPL/ELEC - Département d'électricité UCL - EPL/EPL - Ecole Polytechnique de Louvain UCL - SST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique |
Links |
Bibliographic reference | Shariati, Saloomeh ; Standaert, François-Xavier ; Jacques, Laurent ; Macq, Benoît ; Salhi, M. ; et. al. Random Profiles of Laser Marks.Proceedings of the 31st WIC Symposium on Information Theory in the Benelux (Rotterdan/the Netherlands, May, 11-12). In: PROCEEDINGS OF THE SYMPOSIUM ON INFORMATION THEORY IN THE BENELUX, 2010, p.27-34 |
---|---|
Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/81802 |