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Ion beam patterned polymer surfaces for selective polyelectrolyte multilayer build-up
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Document type | Contribution à ouvrage collectif (Book Chapter) – Autre |
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Publication date | 2000 |
Language | Anglais |
Host document | A. Benninghoven, P. Bertrand, H.-N. Migeon and H. Werner ; "Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XII"- p. 757-760 (ISBN : 0-444-50323-4) |
Publisher | Elsevier Science Publ. (Amsterdam) |
Publication status | Publié |
Affiliations |
UCL
- UCL - FSA/MAPR - Département des sciences des matériaux et des procédés |
Links |
Bibliographic reference | Delcorte, Arnaud ; Bertrand, Patrick ; Wischerhoff, Erik ; Laschewsky, André. Ion beam patterned polymer surfaces for selective polyelectrolyte multilayer build-up. In: A. Benninghoven, P. Bertrand, H.-N. Migeon and H. Werner, Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XII, Elsevier Science Publ. : Amsterdam 2000, p. 757-760 |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/78740 |