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Effect of deposition parameters on the stress gradient of CVD and PECVD poly-SiGe for MEMS applications
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Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
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Publication date | 2004 |
Language | Anglais |
Conference | "the SPIE Conference on Micromachining and Microfabrication Process Technology", San Francisco - CA (2004) |
Peer reviewed | yes |
Host document | "Proceedings"- p. 8-18 |
Affiliation | UCL - FSA/MAPR - Département des sciences des matériaux et des procédés |
Links |
Bibliographic reference | Van der Donck, T. ; Proost, Joris ; Baert, K. ; Van Hoof, C. ; Witvrouw, A.. Effect of deposition parameters on the stress gradient of CVD and PECVD poly-SiGe for MEMS applications.the SPIE Conference on Micromachining and Microfabrication Process Technology (San Francisco - CA, 2004). In: Proceedings, 2004, p. 8-18 |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/70942 |