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Overview of the JPEG XS objective evaluation procedures
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Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
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Publication date | 2017 |
Language | Anglais |
Conference | "Applications of Digital Image Processing XL SPIE Optical Engineering + Applications", San Diego, California, USA (du 19/08/2018 au 23/08/2018) |
Peer reviewed | yes |
issn | 0277-786X |
e-issn | 1996-756X |
Publisher | Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers |
Publication status | Publié |
Affiliation | UCL - SST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique |
Links |
Bibliographic reference | Willème, Alexandre ; Richter, Thomas ; Rosewarne, Chris ; Macq, Benoît. Overview of the JPEG XS objective evaluation procedures.Applications of Digital Image Processing XL SPIE Optical Engineering + Applications (San Diego, California, USA, du 19/08/2018 au 23/08/2018). |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/190165 |