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Microscopie EFM en régime d’amplification paramétrique

Bibliographic reference Ouisse, T. ; Stark, M. ; Rodrigues Martins, Frederico ; Huant, S. ; Chevrier, J.. Microscopie EFM en régime d’amplification paramétrique.Forum des microscopies à sonde locale (Anglet, France).
Permanent URL http://hdl.handle.net/2078.1/136161