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Electron Microscopy Analysis of MOSFET Structures
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Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
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Publication date | 2003 |
Language | Anglais |
Conference | "IEEE 6th Symposium Diagnostics and Yield 2003", Warsaw (Poland) (du 22/06/2003 au 25/06/2003) |
Peer reviewed | yes |
Host document | |
Affiliation | UCL - FSA/ELEC - Département d'électricité |
Keywords | MOSFET |
Links |
Bibliographic reference | Katcki, J. ; Ratajczak, J. ; Laszcz, J. ; Philipp, F. ; Dubois, Emmanuel ; et. al. Electron Microscopy Analysis of MOSFET Structures.IEEE 6th Symposium Diagnostics and Yield 2003 (Warsaw (Poland), du 22/06/2003 au 25/06/2003). |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/135159 |