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Intérêts de la technologie CMOS SOI pour les applications micro-ondes faible tension faible consommation

Bibliographic reference Dehan, Morin ; Parvais, Bertrand ; Dambrine, G. ; Raskin, Jean-Pierre. Intérêts de la technologie CMOS SOI pour les applications micro-ondes faible tension faible consommation.3ème Journées Francophones d’Etudes Faible Tension Faible Consommation FTFC’2001 (Paris, France, du 30/05/2001 au 31/05/2001). In: Proceedings des 3ème Journées Francophones d’Etudes Faible Tension Faible Consommation FTFC’2001, 2001, p.pp. 63-72
Permanent URL http://hdl.handle.net/2078.1/122474