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Refractive index map reconstruction in optical deflectometry using total-variation regularization
Onglets principaux
| Type de document | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
|---|---|
| Année de publication | 2011 |
| Langue | Anglais |
| Conférence | "Wavelets and Sparsity XIV, SPIE Optical Engineering and Applications", San Diego, CA, USA (du 21/08/2011 au 25/08/2011) |
| Information sur le périodique | "SPIE - the International Society for Optical Engineering. Proceedings" - Vol. 8138, no. 1 (21-25 August 2011) |
| Peer reviewed | oui |
| issn | 0277-786X |
| Editeur | S P I E - International Society for Optical Engineering (San Diego, USA) |
| Statut de la publication | Publié |
| Affiliations |
UCL
- SST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique UCL - SST/IMCN/NAPS - Nanoscopic Physics |
| Mots-clés | Sparse signals ; Optics ; Optimization ; Deflectometry |
| Liens |
| Référence bibliographique | Jacques, Laurent ; Gonzalez Gonzalez, Adriana ; Foumouo, Emmanuel ; Antoine, Philippe. Refractive index map reconstruction in optical deflectometry using total-variation regularization.Wavelets and Sparsity XIV, SPIE Optical Engineering and Applications (San Diego, CA, USA, du 21/08/2011 au 25/08/2011). In: SPIE - the International Society for Optical Engineering. Proceedings, Vol. 8138, no. 1 (21-25 August 2011) |
|---|---|
| Permalien | http://hdl.handle.net/2078.1/87531 |