Accès à distance ? S'identifier sur le proxy UCLouvain
Heterogenous void growth revealed by in situ 3-D X-ray mocrotomography using automatic cavity tracking
Onglets principaux
Type de document | Article de périodique (Journal article) – Article de recherche |
---|---|
Type d'accès | Accès restreint |
Année de publication | 2014 |
Langue | Anglais |
Information sur le périodique | "Acta Materialia" - Vol. 63, p. 130-139 |
Peer reviewed | oui |
Editeur | Pergamon ((United Kingdom) Kidlington) |
issn | 1359-6454 |
e-issn | 1873-2453 |
Statut de la publication | Publié |
Affiliations |
UCL
- SST/IMMC/IMAP - Materials and process engineering UCL - SST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique |
Liens |
Référence bibliographique | Lecarme, Liza ; Maire, Eric ; K.C., Amit Kumar ; De Vleeschouwer, Christophe ; Jacques, Laurent ; et. al. Heterogenous void growth revealed by in situ 3-D X-ray mocrotomography using automatic cavity tracking. In: Acta Materialia, Vol. 63, p. 130-139 |
---|---|
Permalien | http://hdl.handle.net/2078.1/135237 |