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Displaying 3 results.
    • WorkingPaper
    Museum assessment and FDH technology: a global approach
    Mairesse, François Vanden Eeckaut, Philippe[UCL] (1999)
    • BookChapter
    Mesurer l'efficacité : avec ou sans frontières ?
    Tulkens, Henry[UCL] Vanden Eeckaut, Philippe[UCL] (1999) La méthode DEA : analyse des performances Joseph-C Paradi, Collectif - Patrick-Yves Badillo —
    • Journal article
    Estimating returns to scale using non-parametric deterministic technologies: A new method based on goodness-of-fit
    Kerstens, K Vanden Eeckaut, Philippe[UCL] (1999) European Journal of Operational Research — Vol. 113, no. 1, p. 206-214 (1999)