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Displaying 2 results.
    • Journal article
    Thermal Noise in MOSFETs: A Two- or a Three-Parameter Noise Model?
    Emam, Mostafa[UCL] Sakalas, Paulius Vanhoenacker-Janvier, Danielle[UCL] Raskin, Jean-Pierre[UCL] Lim, Tao Chuan Danneville, Francois (2010) IEEE Transactions on Electron Devices — Vol. 57, no. 5, p. 1188-1191 (2010)