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Microscopie EFM en régime d’amplification paramétrique
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| Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
|---|---|
| Publication date | 2005 |
| Language | Anglais |
| Conference | "Forum des microscopies à sonde locale", Anglet, France |
| Affiliation | UCL - SST/IMCN/NAPS - Nanoscopic Physics |
| Links |
| Bibliographic reference | Ouisse, T. ; Stark, M. ; Rodrigues Martins, Frederico ; Huant, S. ; Chevrier, J.. Microscopie EFM en régime d’amplification paramétrique.Forum des microscopies à sonde locale (Anglet, France). |
|---|---|
| Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/136161 |