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Bias-temperature phenomena in SOI structures and devices
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| Document type | Contribution à ouvrage collectif (Book Chapter) – Chapitre |
|---|---|
| Publication date | 2000 |
| Language | Anglais |
| Host document | éd. par P.L.F. Hemment ; V.S. Lysenko ; A.N. Nazarov. ; "Perspectives, Science and Technologies for Novel Silicon on Insulator Devices"- p. 163-178 (ISBN : 0-7923-6116-4) |
| Collection | NATO ASI Series |
| Publication status | Publié |
| Affiliation | UCL - FSA/ELEC - Département d'électricité |
| Keywords | SOI |
| Links |
| Bibliographic reference | Nazarov, Alexei ; Barchuk, I.P. ; Kilchytska, Valeriya. Bias-temperature phenomena in SOI structures and devices. In: éd. par P.L.F. Hemment ; V.S. Lysenko ; A.N. Nazarov., Perspectives, Science and Technologies for Novel Silicon on Insulator Devices, 2000, p. 163-178 |
|---|---|
| Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078.1/133477 |