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Nanomechanical tensile testing of metallic thin films
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Document type | Communication à un colloque (Conference Paper) – Présentation orale avec comité de sélection |
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Publication date | 2010 |
Language | Anglais |
Conference | "MICROSCIENCE 2010", London, UK (du 28/06/2010 au 01/07/2010) |
Peer reviewed | yes |
Host document | "Proceedings of MICROSCIENCE 2010"- p. Paper M3.2-0142 |
Publication status | Publié |
Affiliation | UCL - SST/ICTM - Institute of Information and Communication Technologies, Electronics and Applied Mathematics |
Keywords | NANO |
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Bibliographic reference | Wang, Bingyu ; Idrissi, Hosni ; Colla, Marie-Stéphane ; Coulombier, Michaël ; Boé, Alexandre ; et. al. Nanomechanical tensile testing of metallic thin films.MICROSCIENCE 2010 (London, UK, du 28/06/2010 au 01/07/2010). In: Proceedings of MICROSCIENCE 2010, 2010, p. Paper M3.2-0142 |
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Permanent URL | http://hdl.handle.net/2078/123511 |