Etude du temps de vie de paires électrons-trous et caractérisation de NiO dans des jonctions de panneaux solaires à production d'hydrogène

Ce mémoire a pour vocation d'étudier des panneaux solaires produisant de l'hydrogène. Divers matériaux sont étudiés tels que le silicium et l'oxyde de nickel. Une bonne passivation du silicium dopé a été réalisée avec une couche d'oxyde de silicium. Ceci fut réalisé et étudié en salle blanche par un nettoyage standard suivi d'une étape d'oxydation dans un four et finalisé par un passage dans un four à hydrogène. Les résultats sont fournis par une mesure du temps de vie des charges créées par un flash lumineux. Ensuite, ce mémoire s'intéresse à l'oxyde de nickel, couche sélective au niveau des charges. Une couche de NiO mince (4nm) est déposé par sputtering sur le silicium passivé. Diverses mesures électriques ont été réalisées afin de caractériser cet oxyde telles (i) qu'un test de transparence, (ii) une diffraction par rayon-x, (iii) des tests courant-tension, (iiii) une mesure de résistivité par un test à 4 contacts.